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Semrock Di03-R660-T3-25x36 激光器BrightLine单边超分辨率/TIRF二向色分光镜®

Semrock Di03-R660-T3-25x36 激光器BrightLine单边超分辨率/TIRF二向色分光镜® Semrock 零件编号：Di03-R660-t3-25x36 IDEX 零件编号：FL-006385 完美的二向色分光镜，适用于荧光成像中最常用的激光器，包括用于高级显微镜的全固态激光器。此类别中的所有分光镜在关键激光波长处都具有出色的反射率，并且更宽反射带 — 进入 UV 以进行光活化和超分辨率技术。此外，它们还具有扩展的透射区域 — 到 1200 或 1600 nm 的红外，以及增透（AR）涂层，以最大限度地减少产生的成像伪影来自相干激光。 Semrock 的超分辨率/TIRF 二向色性有两种厚度可供选择，并提供行业领先的平整度，以实现最小的焦点偏移和激光束光斑的光波前像差，从而实现流行的成像和超分辨率技术，如 TIRF、PALM、STORM、结构照明和 STED。 1 mm 上的 1λ P-V RWE，经过优化，可反射直径达 10 mm 的激光束，同时最大限度地减少 RWEλ/5 P-V RWE 在 3 上 mm 的 Mm 激光束，经过优化，可反...

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Semrock CCS希希爱视

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Di03-R660-T3-25x36 激光器BrightLine单边超分辨率/TIRF二向色分光镜®

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Semrock Di03-R660-T3-25x36 激光器BrightLine单边超分辨率/TIRF二向色分光镜®

Semrock 零件编号：Di03-R660-t3-25x36

IDEX 零件编号：FL-006385

完美的二向色分光镜，适用于荧光成像中最常用的激光器，包括用于高级显微镜的全固态激光器。此类别中的所有分光镜在关键激光波长处都具有出色的反射率，并且更宽反射带 — 进入 UV 以进行光活化和超分辨率技术。此外，它们还具有扩展的透射区域 — 到 1200 或 1600 nm 的红外，以及增透（AR）涂层，以最大限度地减少产生的成像伪影来自相干激光。

Semrock 的超分辨率/TIRF 二向色性有两种厚度可供选择，并提供行业领先的平整度，以实现最小的焦点偏移和激光束光斑的光波前像差，从而实现流行的成像和超分辨率技术，如 TIRF、PALM、STORM、结构照明和 STED。

1 mm 上的 1λ P-V RWE，经过优化，可反射直径达 10 mm 的激光束，同时最大限度地减少 RWE
λ/5 P-V RWE 在 3 上 mm 的 Mm 激光束，经过优化，可反射直径达 22.5 mm 的激光束，同时最大限度地降低 RWE

规格

光学规格	价值
传输带 1	Tavg > 93% 677.0 – 1200 nm
反射波段 1	拉布> 94% 647.1 – 665.0 nm
反射带 1 （p-pol）	Rabs > 90% 647.1 – 665.0 nm
反射带 1 （s-pol）	研磨> 98% 647.1 – 665.0 nm
反射带 2	Ravg > 90% 350.0 – 647.1 纳米
边缘波长 1	672.9 纳米
激光波长 1	647.1 纳米、658.0 纳米、660 ± 5 纳米
一般过滤器规格	价值
入射角	45 度，偏移 0.35%/度（40 – 50 度）
圆锥半角	0.5 度
Optical Damage Rating（光学损伤等级）	未测试
平面度 / RWE 分类	超分辨率 / TIRF
反射波前误差	< 0.2λ PV RWE @ 632.8 nm
陡度	陡
物理过滤器规格	价值
横向尺寸（L x W）	25.2 毫米 x 35.6 毫米
横向公差	± 0.1 毫米
通光孔径	≥ 80%（椭圆）
划痕挖掘	60-40
基板类型	熔融石英
Filter Thickness （unmounted）（过滤器厚度（未安装））	3.0 毫米
基板厚度（3 mm，未安装）	3.0 毫米
Filter Thickness Tolerance （unmounted）（过滤器厚度公差（未安装））	± 0.1 毫米
基板厚度公差（3 mm，未安装）	± 0.1 毫米
取向	用激光点标记的反射表面 - 定向入射光的方向

技术信息

主题	描述
清洁滤光片	清洁硬质镀膜滤光片的说明
过滤器可靠性	比较硬涂层过滤器与传统软涂层过滤器的性能和可靠性，并提供有关 Semrock 过滤器测试标准的信息
二向色分光镜的平面度	描述非平面二向色分光镜对显微镜图像保真度的影响
Laser Damage Threshold（激光损伤阈值）	提供用于计算脉冲波和连续波激光器的激光损伤阈值的信息
用于激光荧光显微镜的滤光片	讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素

期刊文章

主题	描述
为荧光显微镜带来超分辨率	Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，Semrock Inc.，生物光子学， 2010 年 5 月/6 月荧光显微镜技术的进步使用户能够打破折射极限并可视化类似于电子显微镜
荧光成像：滤光片优化基于激光的荧光成像系统	Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士， Laser Focus World，2010 年 1 月讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素
完善 TIRF 光学元件	Semrock Inc. 的 Prashant Prabhat 博士和 Turan Erdogan 博士，BioOptics World，2009 年 1 月/2 月讨论了激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素

白皮书

主题	描述
用于激光荧光显微镜的滤光片	分析激光激发对传统荧光显微镜滤光片选择施加的其他考虑因素，重点是多激光系统。
二向色分光镜的平坦度会影响焦点和图像质量	分析二向色滤光片的曲率半径如何影响荧光显微镜中的焦平面偏移、光斑大小和图像保真度。
超分辨率显微镜	讨论了荧光显微镜技术的进步，这些技术允许用户打破折射极限并可视化类似于电子显微镜的分辨率

应用

主题	描述
TIRF （全内反射荧光）	TIRF 显微镜概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。
激光扫描/转盘共聚焦显微镜	共聚焦显微镜技术和应用概述，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。
基于激光的仪器仪表	对基于激光的仪器的常见回顾，包括 Semrock 的解决方案和其他学习资源。

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